LCP-25 Eksperimental Ellipsometr

Qısa Təsvir:

Əl ilə idarə olunan elliptik polyarimetr, filmin qalınlığını və sınma indeksini ölçmək üçün sönmə metodundan istifadə edir və sınaq prosesinin sapmasını və sapma bucağını əl ilə tənzimləyir. Ellipsometriya bərk substrat üzərində dielektrik nazik filmin ölçülməsində geniş istifadə olunur. Filmin qalınlığını ölçmə metodunda onu ən incə və ən yüksək dəqiqliklə ölçmək olar.

Bizə e-poçt göndərin

Məhsul Ətraflı

Məhsul Etiketləri

Xüsusiyyətlər

Təsvir	Xüsusiyyətlər
Qalınlıq Ölçmə Aralığı	1 nm ~ 300 nm
Hadisə Bucağının Aralığı	30º ~ 90º, Xəta ≤ 0.1º
Polyarizator və Analizator Kəsişmə Bucağı	0º ~ 180º
Disk Bucaq Ölçüsü	Hər şkala üzrə 2º
Vernierin minimum oxunuşu	0.05º
Optik Mərkəzin Hündürlüyü	152 mm
İş Mərhələsi Diametri	Φ 50 mm
Ümumi Ölçülər	730x230x290 mm
Çəki	Təxminən 20 kq

Hissə Siyahısı

Təsvir	Miqdar
Ellipsometr Vahidi	1
He-Ne Lazer	1
Fotoelektrik Gücləndirici	1
Foto hücrəsi	1
Silikon Substrat üzərində Silika Filmi	1
Təhlil Proqramı CD-si	1
Təlimat kitabçası	1