LCP-25 Eksperimental Ellipsometr

Qısa təsvir:

Əl ilə işləyən elliptik polarimetr filmin qalınlığını və sınma indeksini ölçmək üçün söndürmə metodundan istifadə edir və sınaq prosesinin sapma və sapma bucağını əl ilə tənzimləyir. Ellipsometriya bərk substratda dielektrik nazik təbəqənin ölçülməsində geniş istifadə olunur. Filmin qalınlığının ölçülməsi üsulunda onu ən incə və ən yüksək dəqiqliklə ölçmək olar.

Bizə e-poçt göndərin

Məhsul təfərrüatı

Məhsul Teqləri

Spesifikasiyalar

Təsvir	Spesifikasiyalar
Qalınlıq Ölçmə Aralığı	1 nm ~ 300 nm
Hadisə bucağı diapazonu	30º ~ 90º , Xəta ≤ 0.1º
Polarizator və Analizatorun kəsişmə bucağı	0º ~ 180º
Disk Bucaq Ölçüsü	Hər miqyasda 2º
Min. Vernierin oxunuşu	0,05º
Optik Mərkəzin Hündürlüyü	152 mm
İş mərhələsinin diametri	Φ 50 mm
Ümumi Ölçülər	730x230x290 mm
Çəki	Təxminən 20 kq

Hissə siyahısı

Təsvir	Miqdar
Ellipsometr vahidi	1
He-Ne Lazer	1
Fotoelektrik gücləndirici	1
Foto Hüceyrə	1
Silikon substratda silisium filmi	1
Analiz proqramı CD	1
Təlimat kitabçası	1